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低价格硅片测温专用型DT40P , 300~1300°C ,3.43μm



规格: DT40P , 300~1400°C ,3.43μm
单位:
浏览次数: 192
性能标签: 低价格 ,半导体制造硅片测温专用型DT40P , 300~1300°C ,400~1400°C ,3.43μm ;此型号还适合于聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙类塑料薄膜



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低价格硅片测温专用型DT40P , 300~1300°C ,3.43μm
 
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产品详细

 

半导体制造硅片测温专用型DT40P


测温范围:300~1300°C ,400~1400°C


波长:3.43μm

 

 

主要应用:

 

1) 半导体制造硅片测温


2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙)

 

 

 性能指标

 

型号 DT40P
测温范围 300~1300°C
400~1400°C *
主要用途 半导体生产硅片测温,聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙类塑料薄膜
光谱范围 3.43µm
光学系数 3008001200
距离系数 50:1
测量误差1 1.0%测量值或1 K
重复精度1 0.5%测量值或0.5 K 
NETD2 0.1°C
响应时间(t95) 150ms, 可调达100 s
发射率 0.200~1.000
瞄准 *标注的为无瞄准(可选外置激光瞄准灯) *标注的可选内置LED瞄准灯
可调参数 发射率, 响应时间, 温度单位°C°F, 存储方式, 子测温范围, 可通过USB通信接口和软件调整
供货范围 DT40P,操作手册,安装螺母,检测单,Windows®PYROSOFT Spot,连接电缆需单独订货
1经过黑体炉标定, Tamb=23°C, ε=1, t95=1s, 取最大值 2噪声等温差.  3  *可选内置LED瞄准.  

 

 

 

半导体硅片测温 , 红外测温仪DT40P

 

 

 

 

高精度硅片测温、塑料薄膜红外测温仪DY10P

 

 

 

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产品资料说明本网站资料大多是准确的,最新产品资料以产品说明书和操作手册为准。产品图片可能与实际有差别,请以实物为准。
 
 
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