德国DIAS推出
低价格硅片测温专用型红外测温仪DT40P
测温范围:300~1300°C ,400~1400°C
波长:3.43μm
主要应用:
1) 半导体制造硅片测温
2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙)
更多性能参见:
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