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低价格硅片测温专用型红外测温仪DT40P , 300~1400°C


 

德国DIAS推出

 

 

低价格硅片测温专用型红外测温仪DT40P

 

 

测温范围:300~1300°C ,400~1400°C

 

波长:3.43μm

 

 

 

主要应用:

 

 

 

1) 半导体制造硅片测温


2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙)

 

 

 

更多性能参见:

 

 

 

半导体硅片测温红外测温仪DT40P

 

 

 

 


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